ATE編程會降低生產(chǎn)效率，這是因為為了能夠滿足編程的需要，要增加額外的時間。舉例來說，如果為了檢查制造過程中所出現(xiàn)的缺陷現(xiàn)象，需要化費15秒的時間進行測試，這時可能需要再增加5秒鐘用來對該元器件進行編程。ATE所起到的作用就像是一臺非常昂貴的單口編程器。同樣，對于需要化費較長時間編程的高密度閃存器件和邏輯器件來說，所需要的總的測試時間將會更長，這令人**。因此，當編程時間與電路板總的測試時間相比較所占時間非常小的時候，ATE編程方式是性價比*好的一種方式。為了提高生產(chǎn)率，以求將較長的編程時間降低到*低的限度，ATE編程技術可以與板上技術相結合使用，例如：邊界掃描或者說具有**的眾多方法中的一種。

還有一種解決方案是在電路板進行測試的時候，僅對目標器件的boot碼進行編程處理。器件余下的編程工作在處于不影響生產(chǎn)率的時候才進行，一般來說是在設備進行功能測試的時候。然而，除非超過了ATE的能力，功能測試的能力是足夠的，對于高密度器件來說性能價格比*好的編程方法是一種自動化的編程設備。舉例來說：ProMaster 970設備配置有12個接口，每小時能夠對600個8兆閃存進行編程和激光標識。與此形成對照的是，ATE或者說功能測試儀將化費60至120小時來完成這些編程工作。